多組通道相控陣探傷儀在技術(shù)上擁有7大優(yōu)勢(shì)

　　多組通道相控陣探傷儀是一種用于物理學(xué)、材料科學(xué)、產(chǎn)品應(yīng)用相關(guān)工程與技術(shù)領(lǐng)域的物理性能測(cè)試儀器。它通過軟件可以單獨(dú)控制相控陣探頭中每個(gè)晶片的激發(fā)時(shí)間，從而控制產(chǎn)生波束的角度、聚焦位置和焦點(diǎn)尺寸。該設(shè)備可以實(shí)現(xiàn)對(duì)鋼、鋁等金屬、非金屬材料工件的相控陣無損檢測(cè)，以及對(duì)工件內(nèi)部質(zhì)量進(jìn)行評(píng)價(jià)，實(shí)時(shí)記錄檢測(cè)數(shù)據(jù)。

 

　　產(chǎn)品主要包括由探傷儀、探頭、楔塊等組成的硬件及由激發(fā)晶片、聚焦范圍、掃查角度范圍、角度步進(jìn)等組成聚焦法則的軟件部分。檢測(cè)系統(tǒng)參數(shù)的選擇主要指硬件和軟件系統(tǒng)參數(shù)的選擇，正確地選擇其參數(shù)對(duì)于有效地發(fā)現(xiàn)缺陷并對(duì)缺陷定位、定量甚至定性都是至關(guān)重要的，實(shí)際檢測(cè)中要根據(jù)被檢工件的結(jié)構(gòu)形狀、尺寸、加工工藝和技術(shù)要求來選擇。

 

　　多組通道相控陣探傷儀的技術(shù)優(yōu)勢(shì)：

　　1、實(shí)時(shí)彩色成像，包括A/B/C/D和S-掃描，便于缺陷判讀，不會(huì)誤判或漏判缺陷；

　　2、相控陣技術(shù)可以實(shí)現(xiàn)線性掃查、扇形掃查和動(dòng)態(tài)深度聚焦，從而同時(shí)具備寬波束和多焦點(diǎn)的特性，因此檢測(cè)速度可以更快更準(zhǔn)；

　　3、相控陣具有更高的檢測(cè)靈活性，可以實(shí)現(xiàn)其它常規(guī)檢測(cè)技術(shù)所不能實(shí)現(xiàn)的功能，如對(duì)復(fù)雜工件檢測(cè)；

　　4、容易檢測(cè)各種走向、不同位置的缺陷，缺陷檢出率高，檢測(cè)范圍廣，定量、定位精度高；

　　5、掃查裝置簡單，便于操作和維護(hù)；使用更便捷，對(duì)人體無傷害，對(duì)環(huán)境無污染；

　　6、檢測(cè)結(jié)果受人為因素影響小，數(shù)據(jù)便于儲(chǔ)存、管理和調(diào)用，以及連接電腦打印查看。也可以直接連接鼠標(biāo)在儀器上操作；

　　7、可以節(jié)省許多成本費(fèi)用，一探頭和各角度楔塊的多用處，可以自動(dòng)生成圖文缺陷報(bào)告，若有內(nèi)部網(wǎng)路可以直接發(fā)送質(zhì)檢報(bào)告到數(shù)據(jù)中心查閱。